Metody mikroskopii elektronowej w badaniach półprzewodników |
![]() |
![]() |
![]() |
Wpisany przez Jacek Szczytko |
środa, 23 października 2013 08:33 |
prof. Magdalena Parlińska
Szkoła IN: Poniedziałek 2 grudnia N021 g. 17:00, Hoża 69 Mikroskopia elektronowa skaningowa (SEM) pozwala obrazować topografię powierzchni czy nanostruktury – umożliwia kontrolę jakości wyhodowanych nanorurek bądź nanodrutów. Natomiast mikroskopia elektronowa transmisyjna (TEM) jest techniką badania materiałów, która pozwala obserwować ich strukturę wewnętrzną na poziomie atomowym. W szczególności dotyczy to półprzewodnikowych struktur wielowarstwowych, których właściwości fizyczne zależą od obecności defektów i w powierzchniach granicznych i grubości poszczególnych warstw. Omówione zostaną zasady funkcjonowania mikroskopów, tryby ich pracy, techniki preparatyki próbek do TEM, oraz przykłady obrazów różnych struktur i materiałów półprzewodnikowych.
Szkoła odbywa się dzięki wsparciu projektu POKL UDA – POKL.04.01.01-00-100/10 "Chemia, fizyka i biologia na potrzeby społeczeństwa XXI wieku: nowe makrokierunki studiów I, II i III stopnia" prowadzonemu na Wydziale Chemii UW. |
Poprawiony: wtorek, 03 grudnia 2013 14:07 |