Metody mikroskopii elektronowej w badaniach półprzewodników Drukuj
Wpisany przez Jacek Szczytko   
środa, 23 października 2013 08:33

prof. Magdalena Parlińska
Pracownia Mikroskopii Elektronowej i Preparatyki Centrum Mikroelektroniki i Nanotechnologii Uniwersytetu Rzeszowskiego

Szkoła IN: Poniedziałek 2 grudnia N021 g. 17:00, Hoża 69

Mikroskopia elektronowa skaningowa (SEM) pozwala obrazować topografię powierzchni czy  nanostruktury – umożliwia kontrolę jakości wyhodowanych nanorurek bądź nanodrutów. Natomiast mikroskopia elektronowa transmisyjna (TEM) jest techniką badania materiałów, która pozwala obserwować ich strukturę wewnętrzną na poziomie atomowym. W szczególności dotyczy to półprzewodnikowych struktur wielowarstwowych, których właściwości fizyczne zależą od obecności defektów i w powierzchniach granicznych i grubości poszczególnych warstw. Omówione zostaną zasady funkcjonowania mikroskopów, tryby ich pracy, techniki preparatyki próbek do TEM, oraz przykłady obrazów różnych struktur i materiałów półprzewodnikowych.

 

Szkoła odbywa się dzięki wsparciu projektu POKL UDA – POKL.04.01.01-00-100/10 "Chemia, fizyka i biologia na potrzeby społeczeństwa XXI wieku: nowe makrokierunki studiów I, II i III stopnia" prowadzonemu na Wydziale Chemii UW.

Poprawiony: wtorek, 03 grudnia 2013 14:07